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验收噪音检测机构 CMA科实上门测试

发布时间:2023-12-16        浏览次数:5        返回列表
前言:验收噪音检测机构
验收噪音检测机构 CMA科实上门测试

噪声是指在电子器件中由于各种因素引起的非期望的信号,它对电子系统的性能和可靠性产生了重要影响。


噪声的来源


1、 热噪声:热噪声是由于器件内部电子的热运动引起的。根据维纳-辛钦定理,任何两个物理量之间存在一个相关系数,这个系数决定了它们之间的噪声功率谱。对于电阻器来说,热噪声的功率谱密度与电阻值成正比,与温度成正比。


2、 动态噪声:动态噪声主要由于器件内部电流(或电压)的变化引起的。例如,晶体管的基极电流的涨落会导致输出电流的涨落,进而产生动态噪声。


3、 1/f 噪声:1/f 噪声也被称为低频噪声、闪烁噪声或红噪声。它的功率谱密度随频率的增加而下降。1/f 噪声的产生机制较为复杂,可能与器件内部的损耗、界面效应以及接触电阻等因素有关。


4、 射频干扰噪声:射频干扰噪声是由于外部射频信号对器件产生的干扰引起的。尤其是在高频应用中,周围环境中可能存在大量的射频信号,它们会进入系统并产生噪声。


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